Giải pháp kiểm tra màn hình LCD với TEGAM 1750

Một màn hình LCD được cấu tạo từ nhiều lớp polycrystalline silicon kết hợp với chất dẫn điện Indium Tin Oxide (ITO). ITO được sử dụng vì đây là chất dẫn điện tốt và trong suốt. Độ đồng nhất và tính nguyên vẹn của lớp ITO rất quan trọng đến hiệu suất hiển thị và có thể được kiểm tra bằng cách đo độ dẫn của nó. Mục đích của việc này sẽ giúp người dùng tối thiểu hóa việc sử dụng ITO mà vẫn đảm bảo đủ độ dày cho hiệu suất dẫn điện tốt.

Để kiểm tra độ dẫn của ITO (Indium Tin Oxide), yêu cầu phải đáp ứng được tất cả các yêu cầu trên về độ chính xác và tốc độ đo nhanh hơn cả các loại đồng hồ đo điện trở trên thị trường. có thiết bị đo điện trở có độ chính xác cỡ mili-ôm với tốc độ đo cao. Tegam 1750 cung cấp giải pháp

Việc đo điện trở chính xác cỡ mili-ôm yêu cầu điện áp đo trong dải mili-vôn, thậm chí là micro-vôn. Khi đo với giá trị điện trở nhỏ như vậy thì giá trị điện trở của đầu đo cũng làm sai số đáng để đến kết quả đo, nên việc sử dụng phương pháp đo Kelvin 4 dây được yêu cầu. Với cấu hình 4 dây, ta sẽ giảm tối đa sai số có thể gặp phải và cho kết quả với độ chính xác cao nhất. Tegam 1750 có thể đo 1mΩ với độ chính xác tốt hơn 1 μΩ với thời gian đo nhở hơn 36 ms. Điều này cho phép ta có thể đo một cách nhanh chóng trên nhiều vị trí của màn hình LCD.

Tegam 1750 cũng được thiết kế để phù hợp giao tiếp với PLC hoặc máy tính. Điều này giúp cho thiết bị tương thích cao với các hệ thống tự động và các ứng dụng của người dùng. Thiết bị cũng có thể là một giải pháp hữu ích cho việc kiểm tra chất lượng trong các nhà máy sản xuất pin năng lượng mặt trời, mạ điện…, trong các ứng dụng mà độ dày bề mặt của chất dẫn điện ảnh hưởng trực tiếp đến hiệu suất làm việc cuối cùng của sản phẩm.

Nguồn: TMC