Hệ thống X quang CT: Công cụ đắc lực để kiểm tra chất lượng Pin

Nhờ tính năng đơn giản hóa việc chụp cắt lớp, lấy hình ảnh 3D về cấu trúc bên trong của vật thể, quan sát hình dạng bên trong, đo chiều dày và quan sát mật độ, hệ thống chiếu tia X quang là công cụ đắc lực để phân tích các khiếm khuyết đồng thời kiểm soát chất lượng sản phẩm.

Dưới đây là hình ảnh của các điện cực và tấm phân cách trên một mặt cắt tùy ý:

Hệ thống vi tiêu điểm inspeXio SMX-225CT

Trong công nghiệp, các hệ thống chụp cắt lớp X quang CT hỗ trợ nhà sản xuất quan sát cấu trúc bên trong mà không cần phá hủy vật thể. Đặc biệt, với độ phân giải siêu hiển vi giúp hệ thống CT tăng cao độ chính xác để phát hiện “bệnh trạng” bên trong của các linh kiện điện tử phức tạp. Do đó, các hệ thống này thường được áp dụng để kiểm soát chất lượng ở khâu cuối cùng trong quá trình sản xuất pin.

Shimadzu lần đầu tiên cho ra mắt thiết bị sử dụng tia X phục vụ ngành công nghiệp vào năm 1933. Đến nay, sau hơn nửa thế kỷ, hãng đã có nhiều kinh nghiệm trong việc sản xuất loại máy này và không ngừng cải tiến sản phẩm, đảm bảo sự an toàn trong quá trình làm việc.

Nguồn: ETA